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真空镀膜材料及靶材
四点探针量测仪
真空计和真空规管

 四点探针量测仪 
真空镀膜材料及靶材 真空计和真空规管




 

便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。

(1)测量范围:

可测量 电阻率:0.01~199.9Ω•cm。
可测方块电阻:0.1~1999Ω/口
当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。

(2)恒流源: 输出电流:DC 0.1mA~10mA分两档
10mA量程:0.1~1mA 连续可调
10mA量程:1mA ~10mA连续可调
恒流精度:各档均优于±0.1%
适合测量各种厚度的硅片
(3) 直流数字电压表 测量范围:0~199.9mv
灵敏度:100μv
准确度:0.2%(±2个字)
(4) 供电电源: AC:220V ±10% 50/60HZ 功率8W
(5) 使用环境: 相对湿度≤80%
(6) 重量、体积 重量:2.2 公斤
体积:宽210×高100×深240(mm)
(7)KD探针头 压痕直径:30/50μm
间距:1.00mm
探针合力:8±1N
针材:TC

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