光学膜厚测控系统

ZH-MK系列光学膜厚测控系统采用了1000Hz调制光源信号,经光路透镜、监控片、光纤进入单色仪，由光电倍增管转换成电信号送入膜厚测控仪放大显示，为控制膜厚操作提供了比较稳定的监测信号。膜厚测控仪采用优质集成电路及电子元器件组成，指针仪表和数字仪表双重显示，具有灵敏度高、量程范围广、使用方便等优点。